从实验室到产品下线阶段的解决方案

GRAS提供各种现成的耳机和耳麦测试用声学测试装置和仿真耳套装。总之,这些产品覆盖了整个开发生产周期——从早期研发到生产线(PL)和质量保证(QA)/质量控制(QC)——所有的测试需求。

 




单击下面的配置器,探索您的耳机和耳麦测试解决方案




测试阶段

研发

研发测试指早期产品开发阶段(即从设计生产到最后生产)的所有测试。

开发新耳机和耳麦并不仅仅是要解决音效问题,而今还要考虑满足若干复杂的要求:语音识别、噪声消除、无线蓝牙功能、虚拟现实和增强现实等。

此外,还必须能够在几乎任何场景下使用,且样式也要好看。

GRAS针对研发的解决方案覆盖整个开发过程。公司提供各种测试解决方案,包括简单易用的桌面式测试装置(如43AG)、使用头部和躯干模拟器(45BB或45BC)的先进研发测试解决方案,以及生产线测试装置(45CC)。这一装置用于确认是否可生产特定规格的耳机或生产的耳机是否符合特定规格。

查看我公司的 耳模拟器系列产品, 包括根据60318-4标准发布的最新改良型耳模拟器,其测量频率高达20kHz和50kHz。

点击此处查看我公司客户Meze Audio公司使用GRAS RA0401耦合器进行高频测试的案例 。

观看使用GRAS 43BB耦合器测试耳机的视频:

生产线(PL)、质量保证(QA)和质量控制(QC)

生产线、质量保证和质量控制测试确保实际生产与目标质量相符且不合格样品不会流入市场。

测试设备必须能够重复用于日常精确测量,以确保耳机和耳麦符合已发布的市场规范要求。

功能越多,测试设置也就越复杂。此外,还要确保测量的质量:多个测试位置的数据一致性和可重复性。

生产线不允许存在故障停机和低产量问题,这也是GRAS与全球领先的耳机耳麦行业公司紧密协作开发生产线和质量保证测试用产品的原因。

查看我公司的 仿真耳系列产品,包括根据60318-4标准发布的最新改良型仿真耳,其测量频率高达20kHz和50kHz。

点击 此处查看我公司客户GN Audio公司使用GRAS 设备进行测试的案例。

观看使用GRAS 45CC测试装置测试耳机的视频:

 

PE

生产工程 (PE) 很少是一个独立的部门,而通常是由隶属于研发或生产线团队的工程师所履行的职能。

 

生产工程职能负责协调整个制造过程中的测试,确定在生产线上进行测试以达成研发设定目标的最佳方法,并确保测试被明确定义以满足所有测试标准。

一个灵活的测试台是生产工程师为开发和优化头戴式耳机及耳麦的功能性测试所需的重要元素之一。由于测试台所处的不同位置对要求、复杂性和操作员技能的需求各不相同,因此确保不同测试台和工具之间的一致性至关重要。这可能包括,例如,使用像 GRAS 45BB45BC 这样的头部和躯干模拟器的高级研发测试解决方案,以及更简单、更易于使用的测试工位,如 GRAS 43AG 这样的桌面式测试治具,或是像 GRAS 45CC 这样高度灵活的产线测试治具,后者包含了适用于多种测试场景的不同配置。

生产工程 (PE) 职能通过确保研发与产线 (PL) 之间的一致性,在持续提升生产力方面扮演着重要角色。这种一致性涉及指定目标测试参数,以及配置产线上的测试工位,以根据研发部门定义的目标规格可靠地提供结果。所有这些都围绕着一个共同目标:确保数据的一致性、测试的有效性,以及在不同测试之间和跨多个测试工位时的可重复性。

欢迎了解我们的仿真耳系列,包括全新升级的、基于 IEC 60318-4 标准的仿真耳,它们能够测量高达 20 kHz 和 50 kHz 的高频。

PL 和 QC

生产线和 QC 测试旨在确保实际生产符合质量目标,并且没有不合格的样品流入市场。

 

测试设备必须每天提供可重复且精确的测量,以确保不符合规格的头戴式耳机和耳麦不会交付给最终用户。

随着功能数量的增加,测试设置的复杂性也在提升。同时,确保测量质量也至关重要:即在不同测试之间以及跨多个测试地点时,数据需保持一致性和可重复性。

停机时间和低良率是生产线绝不能接受的,这正是 GRAS 与全球头戴式耳机和耳麦行业的领先公司密切合作,共同开发用于产线 (PL) 和 QC 测试产品的原因。

欢迎了解我们的仿真耳系列,包括全新升级的、基于 IEC 60318-4 标准的仿真耳,它们能够测量高达 20 kHz 和 50 kHz 的高频。

此处阅读我们与 GN Audio 合作,探讨使用 GRAS 设备的测试解决方案的客户案例。

 

测试类型

需要进行何种类型的测试?

GRAS将测试分为四种类型:标准测试、低噪声测试、高频测试和高分辨率测试。标准测试不考虑低噪声测试或频率高于10kHz的测试,这也是我们提供高频率或低噪音水平测试设备的原因。以下为我们根据自己的理解定义的不同测试类型。

标准测试

测试依据的标准包括IEC 60268、IEC 60318-1、IEC 60318-4和ITU-T Rec P.57等。几十年来,这些测试标准在实践中得到了验证和完善。但产品改良也对测试方法提出了新要求。因此我们开发了若干改良型测试解决方案,其中包括多个经改良后符合IEC 60318-4标准、兼容低噪声测试、高频测试和高分辨率测试的耳模拟器。

低噪测试

低噪声系统考虑了频率低至或接近人耳听力阈值的噪声测试。测试ANC电子产品和蓝牙功能耳机时必须使用该系统。低噪声测试一般是为了降低只能通过主观听感分辨的电子产品杂音。这种测试一般在产品开发早期的研发阶段进行。GRAS的耳机测试用低噪声系统采用了类似于60318-4中所述的耳模拟器,且同时配备了低噪声耳机和43BB低噪声系统。

高频测试

我们定义的高频测试频率可达20kHz。高频测试采用符合60318-4要求的改良型耳模拟器进行。所述耳模拟器完全符合前述标准要求,而且测试频率扩展到了20kHz;此外,由于完全符合IEC 60318-4标准要求,频率范围扩大,失真测量及可重复性表现优异,这一耳模拟器成为了各种基于耳模拟器之测量解决方案的合理首选产品。这也是我们将其作为“新常态”——即711耳模拟器的继任产品推荐的原因。

高分辨率测试

测试高分辨率耳麦时需要使用测试频率不低于40kHz的测试方案。可使用1/4” 麦克风测试方案,但通常情况下测试方案最好能反映测试对象低于10 kHz的真耳声阻抗。我公司的高分辨率耳模拟器可提供测试对象的真实声负载,符合IEC70318-4标准要求,可重复性更好,且测试频率范围不低于50kHz。唯一美中不足的是敏感度较低,导致本底噪声较大。